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解決方案

致力于向芯片設計公司、芯片封裝測試廠、芯片廣泛的應用領域提供測試、老化、燒錄等各種方案

IC測試

任何一塊集成電路都是為完成一定的電特性功能而設計的單片模塊，IC測試就是集成電路的測試。如果存在無缺陷的產品的話，集成電路的測試也就不需要了。由于實際的制作過程所帶來的以及材料本身或多或少都有的缺陷，因而無論怎樣完美的產品都會產生不良的個體，因而測試也就成為集成電路制造中不可缺少的工程之一。

IC老化

IC老化測試是一種采用電壓和高溫來加速器件電學故障的電應力測試方法。老化過程基本上模擬運行了芯片整個壽命，因為老化過程中應用的電激勵反映了芯片工作的最壞情況。

IC燒錄

廠商從半導體商買來各種可燒錄IC其資料區(qū)都是空白的，在組裝前才將其最新版的控制程序及數(shù)據使用IC燒錄器寫入，這是一項比IC測試還重要的必要流程，一般都由最終電子產品制造者來執(zhí)行完成，也是生產制造中，較容易出錯需要較多調試糾正的環(huán)節(jié)。

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致力于研發(fā)生產IC測試/老化/燒錄座等產品

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郡仁司電子科技

一家專業(yè)的IC測試/老化/燒錄座
定制研發(fā)加工服務

東莞市郡仁司電子科技有限公司是國內一家自主研發(fā)、生產、銷售IC測試，燒錄，老化的企業(yè)。我們自公司成立以來，一直致力于為IC測試，燒錄，老化行業(yè)提供增值服務。我們致力于向芯片設計公司、芯片封裝測試廠、芯片廣泛的應用領域（MEMORY、SDRAM、PC、AUDIO、VIDEO以及通訊，汽車電子等）提供測試（Testing）、老化（Burn-in）、燒錄（Programming）等各種方案。
公司經過多年發(fā)展，累積了豐富的經驗及良好的口碑。主要產品：BGA、CSP、QFN、MLF、PLCC、DIP、SSOP、SOP、TSOP、TSSOP、QFP、SOJ、SOT等，同時可根據不同客戶的特殊需求，提供高品質的測試插座定制服務。

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